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GE Prüfkopf Art.Nr. 113-842-280 FIP-XDCR ISS 2.25 X 0.50SF
Dieser Ultraschall-Tauchprüfkopf wird zur Materialanalyse und Fehlererkennung verwendet. Er ist ideal für dünne Materialien und die Erkennung von oberflächennahen Fehlern
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Der GE Prüfkopf FIP-XDCR ISS arbeitet mit einer Frequenz von 2,25 MHz und hat einen Durchmesser von 0,50 Zoll. Er bietet hochpräzise Messungen und ist eine zuverlässige Lösung für industrielle Prüfungen
Frequenz: 2,25 MHz
Durchmesser: 0,50 Zoll
Typ: Tauchprüfkopf
Anwendung: Materialanalyse und Fehlererkennung